8 (800) 511-88-70
8 (800) 511-88-70 Пн-Пт с 8:00 до 18:00
8 (800) 511-88-70
email Pro-Solution
ome@pro-solution.ru Единый email
8 (800) 511-88-70 Пн-Пт с 8:00 до 18:00
8 (800) 511-88-70
email Pro-Solution
ome@pro-solution.ru Единый email
8 (800) 511-88-70 Пн-Пт с 8:00 до 18:00
8 (800) 511-88-70
email Pro-Solution
ome@pro-solution.ru Единый email
Каталог товаров

КАК КУПИТЬ

Процедура покупки товара в нашем Каталоге очень проста и состоит из нескольких шагов.

Перейти в интернет-магазин
1
Выберите товар:

Вы можете выбрать товар из каталога ЭТАЛОН НПП и

2
Оставить заявку:

Если вы не нашли товар в списке отправьте заявку нам по сайта, Email, WhatsAPP или позвоните нам

3
Оформление заказа:

Мы вышлем Вам коммерческое предложение после подтверждения объема заказа

4
Оплата по счету:

Вы можете оплатить заказ по счету. Заказ может оплатить юридическое лицо с расчетного счета, так и физическое лицо со счета электронной карты. Перечисление средств займет от 1 до 3 банковских дней

Автоматизированное рабочее место для поверки термометров сопротивления АРМ ПТС Товар pro-solution
Товар pro-solution Эталонные меры малой длины

Объект микрометр ОМ-О, ОМ-П

Купить Объект микрометр ОМ-О, ОМ-П OMSKETALON по лучшей цене с доставкой - интернет-магазин Прогрессивные решения
Объект микрометр ОМ-О, ОМ-П

Назначение


Объект микрометр ОМ-О, ОМ-П. |  ТУ 4381-018-02566540-2004 Объект-микрометры ОМ предназначены для определения увеличения поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток.   Изготавливаются в виде двух исполнений: для отраженного света (ОМ-О) для проходящего света (ОМ-П) ...Подробнее

В зависимости от размера заказа предоставляются скидки

|  ТУ 4381-018-02566540-2004

Объект-микрометры ОМ предназначены для определения увеличения поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток.
 

Изготавливаются в виде двух исполнений:

  • для отраженного света (ОМ-О)
  • для проходящего света (ОМ-П)
Производитель:
ЭТАЛОН НПП

Заходя на наш сайт, вы соглашаетесь с использованием cookies.